首页> 外文期刊>Письма в "Журнал технической физики" >Применение собственного оксида арсенида галлия для создания изоляции активных элементов интегральных схем на GaAs
【24h】

Применение собственного оксида арсенида галлия для создания изоляции активных элементов интегральных схем на GaAs

机译:应用自己的砷化镓氧化物创建有源元件的隔离集成在GaAs上的电路

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

Использование собственного оксида арсенида галлия, полученного плазменным анодированием с применением ультрафиолетового (УФ) облучения в процессе его формирования, для создания изоляции активных элементов интегральных схем на GaAs является оригинальным методом, ранее не применявшимся. Метод позволяет значительно понизить токи утечки и эффект управления по подложке, повысить термостабильность и напряженность поля пробоя, сохраняя при этом планарность поверхности структур.
机译:使用通过在其形成过程中使用紫外线(UV)照射的等离子体阳极氧化物获得的砷化镓氧化物,以造成在GaAs上的集成电路的活性元件的隔离,是先前未使用的原始方法。 该方法允许您显着降低漏电流和对基板的控制效果,提高击穿场的热稳定性和强度,同时保持结构表面的平面。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号