...
首页> 外文期刊>Неорганические материалы >СТРУКТУРА И СПЕКТРЫ ОТРАЖЕНИЯ ПЛЕНОК In_(3-x)S_4(111)/mono-Si и In_(3-x)S_4(111)/SiO_2/mono-Si
【24h】

СТРУКТУРА И СПЕКТРЫ ОТРАЖЕНИЯ ПЛЕНОК In_(3-x)S_4(111)/mono-Si и In_(3-x)S_4(111)/SiO_2/mono-Si

机译:结构与SPECTRA反射法FILM IN_(3-X)S_4(111)/单Si和IN_(3-X)S_4(111)/ SiO_2 /单硅

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
   

获取外文期刊封面封底 >>

       

摘要

Методом пиролиза аэрозоля получены однофазные текстурированные пленки In_(3-x)S_4(111)/Si(100), In_(3-x)S_4(111 )/Si(111) и In_(3-x)S_4(111 )/SiO_2/Si( 100). Показано, что текстура не зависит от ориентации кремниевой подложки и температуры осаждения (450-500°С). По спектрам отражения определена ширина запрещенной зоны осажденного In_(3-x)S_4, составляющая 1.55 эВ для непрямого разрешенного перехода. Энергия прямых v-c-переходов оценивается величиной 1.61 эВ. Отмечено, что наблюдение интерференции в спектрах зеркального отражения позволяет судить о моменте формирования сплошной пленки и кинетике ее роста.
机译:单相纹理IN_(3-X)S_4(111)/ SI(100),IN_(3-X)S_4(111)/ SI(111)和IN_(3-X)S_4(111)/(111) /(111)/(111)/(111)/ s_4(111)/ siO_2 / si(100)。结果表明,纹理不依赖于硅衬底的取向和沉积温度(450-500℃)。在反射光谱上,确定沉积的IN_(3-X)S_4的禁止区域的宽度是针对间接允许转变的1.55eV。直接V-C转型的能量估计为1.61eV。注意,观察镜面光谱的干扰允许您判断形成实体膜的瞬间和其生长的动力学。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号