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机译:使用变形测量过程的信息开发高分辨率斑点干扰测量方法
関西大学工学部機械工学科;
関西大学工学部機械工学科;
常光応用光学研究所;
Department of Mechanical Engineering Faculty of Engineering Kansai University;
Department of Mechanical Engineering Faculty of Engineering Kansai University;
Jyouko Applide Optics Laboratory;
speckle interferometry; ESPI; Hilbert transformation; fringe scanning; deformation measurement;
机译:仅使用变形测量过程的信息开发高分辨率斑点干扰测量方法
机译:使用变形测量过程的信息开发高分辨率斑点干扰测量方法
机译:仅使用不需要单调相位增加条件的变形过程信息的高分辨率斑点干扰测量方法
机译:散斑变形测量方法仅使用两个散斑图案显影的散斑干涉仪
机译:使用普克尔斯元件的电场测量方法及其在放电现象测量中的应用请参阅用法统计
机译:利用白色干涉条纹的相位交叉信息的膜厚测定方法