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軌道放射光粉末回折測定における粒子統計の効果

机译:粒子统计在轨迹发射光粉末衍射测量中的影响

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摘要

通常の粉末回折データの解析では、粉末試料中に回折条件を満たす結晶粒が相当な数存在することを仮定する。しかし、結晶粒が粗く、回折計の角度分解能が高いほど、この条件を満たすことが難しくなる。最近、筆者らは実験室型粉末回折計の回転試料台の回転角度をステップ走査して得られた回折強度データを解析することにより、回折測定における粒子統計の効果を定量的に評価しうることを示した(Ida et al.,2009)。
机译:在对正常粉末衍射数据的分析中,假设存在满足粉末样品中的衍射条件的相当数量的晶粒。 然而,由于晶粒粗糙并且衍射仪的角度分辨率较高,难以满足这种状态。 最近,作者可以通过分析通过步骤扫描实验室粉末衍射量表的旋转样品的旋转角度获得的衍射强度数据来定量评估衍射强度数据的衍射强度数据的效果。(IDA等,2009)。

著录项

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  • 作者单位

    名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター〒507-0071岐阜県多治見市旭ヶ丘10-6-29;

    名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター〒507-0071岐阜県多治見市旭ヶ丘10-6-29;

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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 硅酸盐工业;
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