ナノ粒子の粒度分布を精密計測放射光の「小角Ｘ線散乱法」で実現新製品開発や品質向上に貢献

摘要

電気化学工業中央研究所分析解析センターの橋本久之研究員と物質·材料研究機構物質研究所の福島整主席研究員の共同研究グループは、製品中のナノ粒子の粒度分布を精密に計測することに成功した。 放射光から出るＸ線を利用する「小角Ｘ線散乱法」を用いた。 ナノ粒子の粒度分布の測定はナノ粒子の製造や、ナノ粒子配合製品の製造とともに重要だが、これまで適当な手法がなく、出来上がった製品の性能全体を評価する間接的な手法をとることが多かった。 ナノ粒子を含む各種製品が増えていることから、粒度分布の直接観測の成功は、新製品の開発や品質向上手法の策定に役立つことになりそうだ。