多機能粉末X線回折装置を用いた結晶構造解析とその可視化--BaTiO_3の構造解析

摘要

粉末X線回折法は，構造情報の取得のみならず，結晶子サイズ，定量分析，応力解析など，それにより得られる情報は非常に多い。また，今回は多機能粉末X線回折装置とリートベルト解析，：MEM解析を組み合わせた方法によるBaTiO_3粉末の評価について事例を示したが，In-plane測定などの技法の開発により，薄膜状態の試料に関しても温度変化をさせながら結晶性，配向性などの情報を得ることが可能になっている（図10）。 また，X線の入射角度を調整することにより，試料に対するX線の侵入深さを変化させた測定も可能である。 この技法は例えば，試料表面近傍と，試料内部の差異を比較する場合などに有効である。今後，セラミックスを含むさまざまな材料評価の分野で粉末X線回折法がさらに広く用いられることに期待したい。