新世代システムRIETAN－FP·VESTAへの招待

摘要

多目的パターンフィッティング·システムRIETAN－2000をリリースしてから8年の歳月が流れた。 RIETAN－2000には今やきわめてポピュラーになったリートベルト法に加え，最大エントロピー法（Maximum Entropy Method：MEM）に基づくパターンフィッティング（MEM-based Pattern Fitting：MPF）という独自の構造精密化法を組み込hだ。 MPF法は粉末X線·中性子回折データからそれぞれ電子密度と干渉性散乱長（b_c）密度を決定し，化学結合や原子の不規則な空間分布に関する情報を与えてくれる。リートベルト法のような古典的構造精密化法の場合，分率座標，占有率，原子変位パラメーターなどの結晶構造パラメーターを最小二乗法で精密化する。 一方，MPF法は実質的に単位胞中の電子·散乱長密度で結晶構造を表現する。 リートベルト法では結合電子を無視し，著しく不規則な原子分布を分割原子モデルで近似せざるを得なかったが，MPF法はこれらの欠点をかなり解消した。