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3次元光学プロファイルによる表面測定技術<Zygo NewViewによる表面粗さ測定事例の紹介>

机译:通过三维光学轮廓的表面测量技术

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摘要

米国Zygo(ザイゴ)社の「Zygo New View6000」(写真1)は光干渉方式である走査型白色干渉計(Scanning White Light Interferometry)とZygo社の特許である独自開発技術FDA(Frequency Domain Analysis:周波数領域解析)により、非接触、短時間、高精度、広範囲測定を可能にする。 又、走査型白色干渉計は測定試料の下処理が不要である事、1~100%の反射率のサンプルであれば測定可能、サンプルの材質を問わないといった測定の汎用性の高さも特長の1つである。 以上の特長からZygo New View6000は表面粗さ測定に関しては有用な測定機といえる。 本稿では「Zygo New View6000」の基本測定原理から表面粗さ測定の事例として「研磨面」及び「機械加工面」に着目した測定技術、事例に関して紹介する。
机译:美国Zygo(Zygo)“Zygo New View 6000”(照片1)是一种扫描白光干涉测量(扫描白光干涉测量学)和Zygo的专利技术FDA(频率域分析:频率区域分析允许非接触,短时间,高准确性和广泛的测量。 而且,扫描白色干涉仪不需要治疗测量样品,如果是1至100%反射率的样品,则表征了对样品材料无关的测量的多功能性。它是一种。 从上述功能,Zygo新视图6000可以说是用于表面粗糙度测量的有用测量机。 在本文中,我们介绍了专注于“抛光表面”和“机加工平面”的测量技术和案例,作为“Zygo新视图6000”的基本测量原理的表面粗糙度测量的情况。

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