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第3章 粒子集合体の比表面積測定の実際

机译:第3章粒子组件的比表面积测量的实践

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摘要

粉体は微粒子になればなるほど比表面積が増加し,粉体物性も表面支配的になってくる。この場合,粉体諸物性の基準として比表面積が用いられることが多い。また,粒子径に分布がある場合や粒子形状が複雑な場合など,何らかの原因でレーザー回折散乱法や顕微鏡観察など粒子径分析が困難な場合,比表面積から粒子径を推定することがある。本稿ではこのような比表面積から粒子および粒子集合体について評価を行う場合の測定法やその際に考慮すべき事柄につて記す。はじめに,比表面積測定の原理,方法に加え測定操作上注意すベき点について述べる。次に比表面積から粒子径分布を測定する場合に必要な基礎的事項について示す。最後に開発動向や展望につて述べたい。
机译:更细的颗粒,更具体的表面积增加,粉末性能也变为表面。 在这种情况下,比表面积通常用作粉末性能的参考。 另外,当粒径或颗粒形状复杂时存在分布时,当粒径分析诸如激光衍射散射方法或微观观察时,可以从比表面积估计粒径。 。 在本文中,我们描述了在评估来自这种特定表面积的粒子和颗粒组件的情况下的测量方法和待考虑的物质。 首先,除了该方法之外,还将比表面积测量的原理添加到测量操作的方法中。 接下来,我们展示了测量从特定表面积的粒度分布所需的基本事项。 最后,我想描述发展趋势和前景。

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