クリープ疲労したフェライト系耐熱鋼(12Cr-2W)のサブグレイン組織解析

摘要

本研究では，前報までに開発したCMP面の反射電子像によって，サブグレインの分布を旧γ粒界近傍と港内の広い領域で評価する。また，観察視野は異なるが背面電子散乱パターン(EBSP)を計測する。さらに，電解研摩面のAFM像を加えて，旧γ粒界とブロック組織との関係を検討する。そして，粗大サブグレインが旧γ粒界に隣接して存在する粗大なブロック内部の回復によって，形成されることを示唆する。