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SiCパワーデパイス

机译:SIC Power Depix.

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摘要

次世代パワーデバイス用の材料としては,炭化ケイ素(SiC)のほかにも,表1に示すダイヤモンドや窒化ガリウム(GaN)などのワイドバンドギャップ半導体材料が候補として挙げられている。これらの材料は絶縁破壊電界強度(E_c)がSiより1けた程度大きく,耐圧を保持するためのドリフト層を1/10程度まで薄くできるため,パワーデバイスの低損失化を実現できる。 そのほかにも,高温動作(SiCでは650°C動作の報告がある),高い熱伝導度(SiCは銅(Cu)並み),大きな飽和富子ドリフト速度などの優れた物性値を持っている。
机译:作为下一代功率器件的材料,除了碳化硅(SiC)之外,表1中所示的宽带隙半导体材料如表1中所示的金刚石和氮化镓(GaN)之外被列为候选物。 由于这些材料具有介电击穿电场强度(E_C),因此可以将用于保持击穿电压的漂移层降低到约1/10,从而可以实现功率装置的低损耗。 除此之外,高温操作(SiC具有650°C的报告),高导热率(SiC是铜(Cu)),具有优异的物理性质,如大饱和资金提升速度。

著录项

  • 来源
    《東芝レビュー》 |2004年第2期|共5页
  • 作者

    四戸孝;

  • 作者单位

    研究開発センター個別半導体基盤技術ラボラトリー研究主幹;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 电工基础理论;
  • 关键词

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