首页> 外文期刊>Приборостроение. Серия Приборостроение >ИСПОЛЬЗОВАНИЕ СИСТЕМЫ БАЗИСНЫХ ФУНКЦИЙ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ НАЛИЧИЯ ПРИМЕСЕЙ В ИЗОТОПНОМ МАСС-СПЕКТРЕ ТРАНСУРАНОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ
【24h】

ИСПОЛЬЗОВАНИЕ СИСТЕМЫ БАЗИСНЫХ ФУНКЦИЙ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ НАЛИЧИЯ ПРИМЕСЕЙ В ИЗОТОПНОМ МАСС-СПЕКТРЕ ТРАНСУРАНОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

机译:使用基本功能系统检测经阵列同位素质谱中的杂质存在

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Рассматриваются возможности использования спектральных преобразований в системе базисных функций для выявления наличия примесей в изотопном масс-спектре трансурановых элементов. В качестве эталонных сигналов используются масс-спектры стандартных образцов элементов. Показывается, что использование данного подхода к обработке сигналов обеспечивает возможность выявления наличия примеси с массой, отличающейся на 0,001% от массы одного из изотопов в стандартном образце.
机译:考虑在基本功能系统中使用光谱变换以检测经脲烷元素同位素质谱中杂质的存在的可能性。 作为参考信号,使用元件的标准样品的质谱。 结果表明,使用这种方法来信号处理提供了检测质量的杂质存在的可能性,其特征在于标准样品中的一个同位素的0.001%。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号