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単一の製法で製作した試料による基板材料の誘電体損失と導体損失の測定

机译:通过单一制造方法制造的样品测量介电损耗和基板材料的导体损耗

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摘要

ガラスエポキシ基板の導体損失と誘電体損失を測定した。 まず電磁界解析に基づいて、線路幅と導体導電率と基板材料の誘電正接と線路損失の関係をあらわす近似式を導く。次に基板材料に線路幅の異なる2種類の半波長共振器をつくり、それぞれの共振Q、そして線路損失を測定する。 そして、二つの測定結果を上記近似式に与えて、導体導電率と基板材料の誘電正接を未知数とする連立方程式を得る。
机译:测量该玻璃环氧基板和介电损耗的导体损失。 首先,根据电磁场分析,线宽度,导体的导电性,与基板材料的介电损耗角正切和表示线路损耗之间的关系的近似式。 接着,具有宽度在基板材料中产生的行,每个共振Q和线路损耗的不同线宽的两个半波谐振器进行测定。 然后,这两个测量结果提供给上述近似表达式,以及使用该导电性导体和基片材料的介质损耗角正切为未知号码得到的联立方程。

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