再帰的手順に基づくSパラメータの間接測定法

摘要

相反多ポート回路の一部のポートを直接測定することなく全Sパラメータを測定する新しい手法を提案している．本方法は，それらのポートに既知負荷の組を接続し，その値を変えつつ，残りのポート間のSパラメータを直接測定することを複数回繰り返し，得られた測定データより回路全体のS行列を推定するものである．本報告では直接測定ポート数より間接測定ポート数が多い場合について、間接測定ポートの一部を既知負荷で終端して一時的に測定対象から除外し，過去に提案した少数のポートを間接測定する場合の手法に帰着して部分的な間接測定Sパラメータ値を得て，それを仮想的な直接測定値とみなす，ということをポートの除外が不要になるまで再帰的に行なうことで全体のS行列を推定している．小型回路基板を対象とした数値例により手法の妥当性と推定の安定性を評価している．