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顕微光学系によるLED用結晶の2波長励起フォトルミネッセンス評価

机译:微观系统LED晶体的两个波长励磁光致光学评价

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摘要

バンド端エネルギーより低エネルギーの励起(BGE)光で禁制帯内準位を選択励起し、バンド間励起(AGE)光で生じるフォトルミネッセンス強度を変調させて禁制帯内準位を評価することができる。顕微光学系を用いたこの手法により、MOCVD成長In_<0.15>Ga_<0.85>N/In_<0.02>Ga_<0.98>N量子井戸結晶の評価を行った。BGEエネルギー1.95eVで禁制帯内準位を検出し、そのAGE強度、BGE強度、温度依存性を測定した。 障壁層、井戸層へのSiドープにより禁制帯内準位密度が低下、すなわち結晶性が改善する点が示された。
机译:在禁止带水平中激发低能量激发(BGE)光,并且可以调制由带间激励(年龄)光产生的光致发光强度以评估禁止带电平。 通过这种方法使用微观系统,进行MOCVD in_ <0.15> Ga_ <0.85> N / IN_ <0.02> GA_ <0.98> N量子阱晶体。 在1.95eV下检测到BGE能量水平,测量其年龄强度,BGE强度和温度依赖性。 孔层和Si掺杂到阱层的屏障层显示出抑制区水平密度降低,即结晶度改善。

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