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【24h】

フェーズドアレイ探傷における集束ビーム下での欠陥評価方法の検討

机译:相控阵探探探伤中聚焦光束下缺陷评价方法的检查

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摘要

フェーズドアレイ探傷における集束ビーム下ではビームが探傷欠陥よりも小さくなり、従来のエコー法の欠陥評価方法は使用できないことを実測とシミュレーションで示した。3次元ビームに拡張したシミュレーション結果も実測値とよく一致した。シミュレーション、実測値を検討した結果、フェーズドアレイ探傷の集束ビーム下では従来のエコー法の欠陥評価方法を適用できないことが分かった。
机译:在相位阵列探伤检测中的聚焦光束下,光束变得小于缺陷缺陷,以及传统回波方法缺陷评估方法不能用于测量和仿真。 扩展到三维光束的仿真结果也与测量值匹配。 结果考虑模拟和测量值,发现传统回声方法的缺陷评估方法不能施加在相控阵探伤检测的聚焦束下。

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