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【24h】

機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法

机译:使用CAD布局提取网列表的功能测试失败信息和LSI故障诊断方法

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摘要

LSIのCADレイアウトから摘出したネットリストを用いて,外部観測塾テスト装置であるLSIテスタにより故障診断を行い,これにより得られた故障候補を,EBテスタ,LVP(1aservoltageprober),時間分解エツンヨン顕微鏡などの内部波形が観測可能な内部観測型テスト装置(ブローバ)での故障絞込みに括用する手法を提案している?設計時のネットリストや,診断肘テストベクトルの生成を必要としないので,半導体製造メーカーにおける故障診断部門においても?容易に利用することができる?本手法をISCAS}85ベンチマーク回助に通用し,本手法の有効性を示している.
机译:使用从LSI CAD布局中切除的网表,LSI测试仪执行故障诊断,即外部观察塾测试设备,并且通过此获得的故障候选者是EB测试仪,LVP(1ServoltGeprober)和Itsun Young的时间分辨率显微镜。半导体,因为它提出了一种用于在内部观察型测试装置(恩式化)中的故障的方法,可以观察可观察到的内部波形的内容,这是易于在制造商的故障诊断部门中使用的易于使用?易于使用?它对ISCAS} 85基准测试是有用的,并表明该方法的有效性。

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