'国際粉体技術フォーラムダイジェスト'ナノリスク·ナノ計測に関する講演会

摘要

第2回国際技術フォーラムは「ナノ粒子」を共通のキーワードとして，2つのテーマで開催された。 その一つは，「ナノ計測」，もう一つは，「ナノ粒子のリスク」であった。 講師並びに講演題目を表－1に示す。 3つの招待講演（0－1，0-2，0－3）と2つの公募によるミニプレゼンテーション（O.1.1，O.1.2）から構成され，11月9日の午前中（一部，午後に）行われた。 以下に，講演の概要を述べる。