遺伝子発現解析によるトマト葉先枯れ症の発症原因の探索

摘要

葉先枯れ症は，発生部位が灰色かび病 の発生源となることから，トマト栽培におい て問題となる生理障害である.この障害の発 生は葉中の力リゥム濃度との関連が報告され ているほか，品種によっても発生程度が大き く異なることが知られている.しかしなが ら，発生のメカニズムに着目した報告はなく， 直接的な発生要因は明らかとなっていなレゝ. そこで本研究では，葉先枯れ症の発生要因に 関する知見を獲得するため，発症程度が異なる2品種の植物体陽イオン濃度と，遺伝子発 現の比較を行った.