HWA1とHWA2によって生じるィネ雑種弱勢の遺伝子発現解析

摘要

インド型イネ（(9ひzararira) 'P.T.B.7' と'A.D.T.14'の雑種は，座と層A2 座の優性遺伝子//waゾ-/とHwa2-Jの補足作 用により雑種弱勢を生じる(Oka 1957, Ichitani eta/. 2011).演者らは，弱勢の症状として葉 の黄化，草丈の低下，分げつ数の減少が認め られること，葉では黄化に伴ってクロロフィ ル含量が減少することや活性酸素の一種であ る過酸化水素が発生して細胞死が生じること を報告した（日本育種学会第121回講演会). 一方，i/『C7座とZ/ffC2座の優性遺伝子の補 足作用により生じるィネ雑種弱勢では，抵抗 性反応の一種である過敏感反応が生じている と考えられており，病害抵抗性関連遺伝子の 発現が増加し，光合成関連遺伝子の発現が減 少していた（日本育種学会第119回講演会). 本報では，Hwaレ1とHwcj2-Jにより生じる雑 種弱勢を対象として，病害抵抗性関連遺伝子 と光合成関連遺伝子の発現解析を行ったので 報告する.