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Study of Defects in High Energy Ion Implanted ZnO Crystals

机译:高能离子植入ZnO晶体缺陷研究

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摘要

Positron annihilation spectroscopy (PAS) was employed for characterization of defects in the hydrothermally (HT) grown zinc oxide single crystals irradiated by high energy ions. Defects created in ZnO crystals by 2.5 MeV protons, 7.5 MeV N~(3+) and 167 MeV Xe~(26+) ions were compared. The virgin ZnO crystals contain Zn-vacancies associated with hydrogen. Ion implantation introduced additional defects, namely Zn+O di-vacancies in crystals irradiated by protons and small vacancy clusters in samples implanted by N and Xe ions.
机译:正电子湮没光谱(PAS)用于表征高能离子照射的水热(HT)生长的氧化锌单晶中的缺陷。 将ZnO晶体中产生的缺陷由2.5 meV质子,7.5mev n〜(3+)和167mev xe〜(26+)离子进行比较。 初始ZnO晶体含有与氢相关的Zn空位。 离子植入引入了另外的缺陷,即由质子辐射的晶体中的Zn + O Di-uscance,以及由N和Xe离子注入的样品中的样品中的小空位簇。

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