机译:恐慌显微外科:评估不同类型的发光二极管发射器检测牙本质缺陷
Univ N Carolina Dept Endodont Adams Sch Dent 5417Q Koury Oral Hlth Sci Bldg CB 7450 Chapel Hill;
Univ N Carolina Dept Endodont Adams Sch Dent 5417Q Koury Oral Hlth Sci Bldg CB 7450 Chapel Hill;
Univ N Carolina Dept Endodont Adams Sch Dent 5417Q Koury Oral Hlth Sci Bldg CB 7450 Chapel Hill;
Univ N Carolina Dept Orthodont Adams Sch Dent Chapel Hill NC 27599 USA;
Univ N Carolina Dept Pediat Dent Adams Sch Dent Chapel Hill NC 27599 USA;
Univ N Carolina Dept Endodont Adams Sch Dent 5417Q Koury Oral Hlth Sci Bldg CB 7450 Chapel Hill;
Dentinal defects; light-emitting diode; periapical microsurgery; transillumination;
机译:恐慌显微外科:评估不同类型的发光二极管发射器检测牙本质缺陷
机译:根尖显微外科手术:超声根端制剂能否在临床上产生或传播牙本质缺损?
机译:根尖显微手术:根和牙根缺损对短期和长期结果的影响
机译:用P型电子阻挡层和N型空穴阻挡层的蓝色IngaN发光二极管的调制性能
机译:通过扫描探针显微镜检查有机发光二极管的缺陷:技术发展和固有的空间变化。
机译:发光二极管对牙齿缺损的评估:推定力的作用
机译:发光二极管评估牙本质缺陷:推测拔除力的作用