机译:25.2,28.5,37.4,36.8和42.2keV X射线光子的弹性散射横截面的测量值,其元素中的22.2℃。= 83
Chitkara Univ Dept Appl Sci Rajpura Panjab India;
Panjab Univ Chandigarh Dept Phys Chandigarh Panjab India;
Panjab Univ Chandigarh Dept Phys Chandigarh Panjab India;
Panjab Univ Chandigarh Dept Phys Chandigarh Panjab India;
Panjab Univ Chandigarh Dept Phys Chandigarh Panjab India;
GGDSD Coll Dept Phys Sect 32 C Chandigarh 160030 Panjab India;
机译:25.2,28.5,37.4,36.8和42.2keV X射线光子的弹性散射横截面的测量值,其元素中的22.2℃。= 83
机译:用26 <= Z <= 83的元素中的39.5,40.1和45.4keV光子测量39.5,40.1和45.4keV光子的测量
机译:使用5.96 keV光子测量元素73 <= Z <= 83的M壳X射线产生截面
机译:662 keVγ光子双光子康普顿散射的单微分碰撞截面的测量
机译:低能正电子-氦散射的研究-精确测量0.6至22 eV的总横截面
机译:通过时间分辨X射线散射直接测量半导体中多光子诱导的非线性晶格动力学
机译:测量双光子交换对弹性的贡献 $ e ^ {\ pm} p $在VEpp-3存储环上散射横截面