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A numerical-analytical approach to determining the real contact area of rough surface contact

机译:确定粗糙表面接触真正接触面积的数值分析方法

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摘要

The objective of this study is to improve the accuracy of the real contact area calculated by the semi-analytical method (SAM). Two types of surface pairs are investigated: an analytically generated sinusoidal wavy surface against a rigid flat, and a pair of real rough surfaces. The results suggest that the real contact area calculated by the SAM is extremely sensitive to the resolution of input, i.e. the grid size. The SAM results of the real contact areas show poor convergence, especially in the case of the real rough surfaces. The main reason for this difference is the 'over-covering' effect when SAM calculates the real contact area. An exponential extrapolation technique is proposed to predict the real contact area values when further refinement of the grid resolution is unfeasible.
机译:本研究的目的是提高半分析方法(SAM)计算的真实接触区域的准确性。 研究了两种类型的表面对:对刚性平坦的分析产生的正弦波表面,以及一对真正的粗糙表面。 结果表明,SAM计算的实际接触区域对输入的分辨率非常敏感,即网格尺寸。 真正的接触区域的SAM结果表明了较差的收敛性,特别是在真正的粗糙表面的情况下。 这种差异的主要原因是当SAM计算真实的接触区域时的“过度覆盖”效果。 提出了指数外推技术,以预测当网格分辨率的进一步改进时,预测真实的接触区域值是不可行的。

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