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机译:Rutherford反向散射光谱法研究多层薄膜结构
Russian Acad Sci KA Valiev Inst Phys &
Technol Yaroslavl Branch Yaroslavl 150007 Russia;
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multilayer thin-film structures; depth profiling; Rutherford backscattering spectrometry;
机译:Rutherford反向散射光谱法研究多层薄膜结构
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机译:Rutherford反向散射光谱分析的机遇,分析多层纳米薄膜结构
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