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机译:基于可变温度光谱椭圆形测量法的P3HT:PC70BM薄膜的相图
Polish Acad Sci Ctr Polymer &
Carbon Mat 34 Marie Curie Sklodowska Str PL-41819 Zabrze Poland;
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Spectroscopic ellipsometry; Ellipsometric modeling; Thin films; Organic semiconductors; Phase diagram;
机译:基于可变温度光谱椭圆形测量法的P3HT:PC70BM薄膜的相图
机译:椭圆偏振光谱法测定非晶碳膜的光学相图
机译:使用光谱椭偏仪通过半导体到金属的相变分析钒氧化物薄膜的光学特性
机译:使用实时光谱椭偏仪开发薄膜Si:H和Si_(1-x)Ge_x:H的沉积相图
机译:实时光谱椭圆偏光法得出的用于指导光伏应用中硅薄膜沉积的相图。
机译:基于可变光谱椭圆偏振法的P3HT:PCBM共混膜相图
机译:Cu2Znsnse4薄膜的光学特性及椭偏光谱法鉴定二次相