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Electron/Pion Identification in the CBM TRD Applying a w~k Goodness-of-Fit Criterion

机译:CBM TRD中的电子/磁场识别应用了一个W〜K良好的符合标准

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摘要

The problem of electron/pion identification in the CBM experiment based on the measurements of energy tosses and transition radiation in the TRD detector is discussed. Earlier we analyzed a possibility to solve such a problem using an artificial neural network (ANN) W. Here we consider an approach based on a nonparametric ω_n~k goodness-of-fit criterion, and comparison with the ANN method is also performed. We show that both methods provide a comparable level of pion suppression and electron identification, the ω_n~k test is more simple for practical applications, the ANN method provides the needed level of pions suppression only if " clever" variables are used. We demonstrate that application of the ω_n~k -criterion to the J/ reconstruction provides a high level of pion background suppression and significantly improves a signal-to-background ratio.
机译:讨论了基于能量折叠测量和TRD检测器中的转换辐射的CBM实验中的电子/沟鉴定的问题。 之前,我们分析了使用人工神经网络(ANN)W的可能性解决这种问题。在这里,我们考虑一种基于非参数ω_n〜k良好拟合标准的方法,并且还执行与ANN方法的比较。 我们表明,两种方法都提供了可比水平的磁振抑制和电子识别,对于实际应用,ω_n〜k检验更简单,只有使用“巧妙”变量,ANN方法才提供所需的关节抑制水平。 我们证明ω_n〜k-errerion对j /重构的应用提供了高水平的振动背景抑制,并显着提高了信号 - 背景比率。

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