首页> 外文期刊>Physical review, C >High precision half-life measurement of ~(147)Sm α decay from thin-film sources
【24h】

High precision half-life measurement of ~(147)Sm α decay from thin-film sources

机译:高精度半衰期测量〜(147)SMα从薄膜源衰减

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
获取外文期刊封面目录资料

摘要

An investigation of the α decay of ~(147)Sm was performed using an ultra-low-background twin Frisch-grid ionization chamber (TF-GIC). Four natural samarium samples were produced using pulsed laser deposition in ultrahigh vacuum. The abundance of the ~(147)Sm isotope was measured using inductively coupled plasma mass spectrometry. A combined half-life value for ~(147)Sm of 1.079(26) × 10~(11) yr was measured. A search for the α decay into the first excited state of ~(143)Nd has been performed using γ spectroscopy, resulting in a lower half-life limit of T_(1/2) > 3.1 × 10~(18) yr (at 90% C.L.).
机译:使用超低背景双Frisch-Grid电离室(TF-GIC)进行〜(147)SM的α衰减的研究。 使用超高真空中使用脉冲激光沉积产生四个天然钐样品。 使用电感耦合等离子体质谱法测量〜(147)SM同位素的丰度。 测量了1.079(26)×10〜(11)YR的〜(147)SM的组合半衰期值。 使用γ光谱进行对第一激发状态的α衰减的搜索,从而实现了T_(1/2)> 3.1×10〜(18)YR的下半垂限度(在 90%cl)。

著录项

  • 来源
    《Physical review, C》 |2017年第3期|共9页
  • 作者单位

    Institut für Kern- und Teilchenphysik Technische Universit?t Dresden 01069 Dresden Germany;

    Institut für Kern- und Teilchenphysik Technische Universit?t Dresden 01069 Dresden Germany;

    VKTA - Radiation Protection Analytics and Disposal Rossendorf e.V. P.O. Box 510119 01314 Dresden Germany;

    Institute of Ion Beam Physics and Materials Research Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf Bautzner Landstr. 400 01328 Dresden Germany;

    Institute for Metallic Materials and IFW Dresden Helmholtzstrasse 20 01069 Dresden Germany;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 原子核物理学、高能物理学;
  • 关键词

    High precision; half-life measurement; thin-film sources;

    机译:高精度;半衰期测量;薄膜源;

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号