机译:高精度半衰期测量〜(147)SMα从薄膜源衰减
Institut für Kern- und Teilchenphysik Technische Universit?t Dresden 01069 Dresden Germany;
Institut für Kern- und Teilchenphysik Technische Universit?t Dresden 01069 Dresden Germany;
VKTA - Radiation Protection Analytics and Disposal Rossendorf e.V. P.O. Box 510119 01314 Dresden Germany;
Institute of Ion Beam Physics and Materials Research Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf Bautzner Landstr. 400 01328 Dresden Germany;
Institute for Metallic Materials and IFW Dresden Helmholtzstrasse 20 01069 Dresden Germany;
High precision; half-life measurement; thin-film sources;
机译:高精度半寿命测量〜(147)SMα从薄膜源衰减
机译:从薄膜源的SM-147α腐烂的高精度半衰期测量
机译:高精度半衰期测量〜(147)SMα从薄膜源衰减
机译:高精度的半衰期和分支比测量为Triumf - Isac的超级费米β〜+发射器
机译:超级允许费米β衰变的高精度半衰期测量。
机译:我们可以使用快速寿命测定来进行基于荧光寿命的快速代谢成像吗?总计数低的双指数衰减测量的精度和准确性
机译:高精度半衰期测量$ ^ {147} $ sm $ \ alpha $衰减来自 薄膜光源