机译:CSL边界在重结晶面中心立方体材料中的截止偏差
Indian Inst Technol Dept Mat Sci &
Engn Kanpur Uttar Pradesh India;
Indian Inst Technol Dept Mat Sci &
Engn Kanpur Uttar Pradesh India;
Grain boundaries; electron back scattered diffraction (EBSD); in-situ electron microscopy; coincident site lattice (CSL) boundary; Brandon criterion; cut-off deviation;
机译:CSL边界在重结晶面中心立方体材料中的截止偏差
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