W prezentacji przedstawiono zastosowanie trojwymiarowej akwizycji dyfrakcji elektronow wstecznie rozproszonych 3D EBSD (Three-Dimensional Electron Backscatter Diffraction) w badaniach spiekanych tlenkowych przewodnikow jonowych na bazie dwutlenku cyrkonu ZrO2 stabilizowanego trojtlenkiem itru Y2O3. Technika ta polega na sekwencyjnym usuwaniu warstwy materialu wysokoenergetyczna wiazka jonow galu z rownoczesna akwizycja map orientacji. Po zlozeniu wszystkich zebranych map za pomoca specjalistycznego oprogramowania powstaje trojwymiarowy obraz mikrostruktury badanego materialu, ktory pozwala na analize rozmiarow krystalitow i rozkladu ich orientacji w przestrzeni trojwymiarowej, co nie bylo osiagalne przy standardowej, dwuwymiarowej analizie dyfrakcyjnej. Zastosowanie odpowiedniego oprogramowania zarowno komercyjnego, tj. TSL OIM 5, Amira 5 Resolve RT, ogolnie dostepnego DREAM 3D, ParaView, a takze opracowanego w I MIM PAN oprogramowania GBToolbox, umozliwilo zarowno opracowanie statystyczne liczby i objetosci poszczegolnych krystalitow, sprecyzowanie liczb granic miedzyziar-nowych oraz rozdzielenie tych granic na granice nachylone (tilt), skrecone (twist), symetryczne (symmetric) czy typu 180°C-tilt.
展开▼
