机译:通过双链层缺陷围绕柱状曲线辐照的双链层缺陷产生的扩展电子结构不均匀性,YBA2CU3O7-DELTA
Univ Illinois Dept Mat Sci Urbana IL 61801 USA;
Univ Illinois Dept Mat Sci Urbana IL 61801 USA;
Brookhaven Natl Lab Dept Condensed Matter Phys &
Mat Sci Upton NY 11973 USA;
Brookhaven Natl Lab Dept Condensed Matter Phys &
Mat Sci Upton NY 11973 USA;
SuperPower Corp Schenectady NY 12304 USA;
Univ Houston Dept Mech Engn 4800 Calhoun Rd Houston TX 77204 USA;
Argonne Natl Lab Div Mat Sci 9700 S Cass Ave Argonne IL 60439 USA;
Argonne Natl Lab Div Mat Sci 9700 S Cass Ave Argonne IL 60439 USA;
Univ Illinois Dept Mat Sci Urbana IL 61801 USA;
scanning transmission electron microscopy; electron energy loss spectroscopy; high temperature superconductor; double chain layer defect; critical current;
机译:通过双链层缺陷围绕柱状曲线辐照的双链层缺陷产生的扩展电子结构不均匀性,YBA2CU3O7-DELTA
机译:重离子辐照引起柱状缺陷的Co掺杂BaFe _2As_2的临界电流密度和通量蠕变速率
机译:重离子辐照引起的柱状缺陷共掺杂BaFe_2As_2中临界电流密度的提高
机译:表面硅层的延伸2D缺陷和带电点在热氧化过程中缺损Si-SiO_2结构的二氧化硅层中的产生过程
机译:由Gd2Ti2O7中的离子轨迹产生的应变缺陷萤石结构中的快速离子电导率
机译:重离子辐照引起柱状缺陷的Ba-122 nic化物超导体的冷凝能密度特性