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Comparative Analysis of CMOS Circuits of a Thermometer-to-Binary Encoder for Integrated Flash Analog-to-Digital Converters

机译:集成闪光模数转换器温度计对二元编码器CMOS电路的比较分析

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摘要

The speed of a flash analog-to-digital converter (ADC) is limited by both the comparator response time in the input analog part of the circuit and the delay time of the encoder that converts the thermometer code on the comparator outputs into the output straight binary code. In this paper, we consider the problems of the synthesis of CMOS circuits of encoders for integrated flash ADCs. New encoder circuit designs with a reduced delay are proposed. The comparative analysis of the main characteristics of CMOS circuits of encoders based on the data of circuit simulation for the 180 nm MOSFET technology is presented.
机译:闪光模数转换器(ADC)的速度受电路的输入模拟部分中的比较器响应时间和编码器的延迟时间,可将比较器上的温度计代码转换为输出直线 二进制代码。 在本文中,我们考虑用于集成闪光ADC的编码器CMOS电路的合成问题。 提出了具有降低延迟的新编码器电路设计。 基于180nm MOSFET技术的电路模拟数据的编码器CMOS电路的主要特性的对比分析。

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