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机译:从扫描隧道显微镜中的半导体微波频率梳
Univ Utah Dept Elect &
Comp Engn Salt Lake City UT 84112 USA;
Los Alamos Natl Lab Ctr Integrated Nanotechnol Mat Phys &
Applicat Div Los Alamos NM 87545 USA;
Mutah Univ Dept Phys Al Karak 61710 Jordan;
scanning tunneling microscopy; scanning probe microscopy; microwave frequency comb; spreading resistance; laser-assisted tunneling;
机译:从扫描隧道显微镜中的半导体微波频率梳
机译:用原子力显微镜(AFM)和扫描隧穿显微镜检测WO3半导体的形貌(STM)
机译:用扫描隧道显微镜测量软有机半导体内部的电势分布
机译:在扫描隧道显微镜中对带有半导体样品的微波频率梳的首次测量
机译:扫描隧道显微镜及其在宽带隙半导体中的应用。
机译:激光频率梳:用于增强无源频率梳操作的石墨烯耦合太赫兹半导体激光器(Adv。Sci。20/2019)
机译:通过扫描扩散显微镜和扫描频率梳理显微镜通过扫描载体分析半导体分辨率