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机译:教授旧材料新技巧:使用导电聚合物轻松廉价的聚焦离子束(FIB)样品保护
Univ Maryland Dept Mat Sci &
Engn College Pk MD 20742 USA;
PBS&
T MEO Engn Co 290 Broadway Suite 298 Methuen MA 01844 USA;
Univ Maryland Dept Mat Sci &
Engn College Pk MD 20742 USA;
focused ion beam; TEM lamella preparation; scanning electron microscopy; conductive polymers; sample preparation;
机译:教授旧材料新技巧:使用导电聚合物轻松廉价的聚焦离子束(FIB)样品保护
机译:使用聚焦离子束(FIB)切片和低kV BSE成像对绝缘的生物和地质材料进行层析成像。
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