めっき厚測定機能を搭載

摘要

オリンパスはこのほど行われた「JASIS2017」に出展し、ハンドヘルド蛍光X線分析計「VANTA」シリーズにめっき厚測定機能が搭載されたことを紹介した。数ナノメートルから数十マイクロメートルまでのめっき厚を計測できる。めっき厚測定の特徴は、「母材が金属、プラスチック、ガラス。