(S281)高温試料のXRF測定

摘要

製鋼プロセスにおけるオンサイト分析や鋼管など確認検査においては，その簡便性からハンドヘルド型蛍光 X 線分析装置(HH-XRF)が用いられる．HH-XRF では検出素子の温度上昇を防止する工夫がなされ，482 °C (900 °F)の試料が測定可能な HH-XRF も市販されている 1)． HH-XRF をはじめとする半導体検出器を備えた蛍光 X 線分析装置を用い高温の試料を分析する際には，スペクトルに対する熱ノイズの影響を誤差因子として考慮する必要があると考えられる. そこで，温度変化させた試料の XRF 測定を行い，スペクトルへの試料温度の影響の有無を調べた．