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CAD/CAM/CAE② No.207:低荷重触針式機上形状測定システムの性能-一体化プローブの開発

机译:CAD / CAM / CAE 2号207:开发集成探头集成探头集成探头

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摘要

情報通信機器、各種モバイル機器などの超精密部品では、形状や表面粗さを測定する機上計測技術が重要なカギを握る。 それは、ワークの着脱なしで測定ができ、精度面や能率面の利点のためである。 このような状況を踏まえ、筆者らは低荷重触針式形状測定プローブ、原子間力顕微鏡(AFM)、LTP (Long Trace Profilometer)、そしてレーザープローブを用いた機上測定システムの開発を行ってきた。 触針式タイプのプローブの場合、材料に左右されず、非球面·自由曲面の形状測定に対応するため、先端部に微小な球状スタイラスを用い、極低荷重による測定を行う。 通常はルピーなどの硬質なマイクロ球をスタイラスとして装着しているが、その取付け誤差や真球度が測定データに影響を及ぼす。 また、大きな立ち上がり角を有するワーク測定では、マイクロ球が脱落することもある。 そこで本研究では、より高精度な機上形状測定技術の確立のため、最小分解能2.5nmを有する低荷重触針式形状測定プローブを新たに開発し、さらにプローブ先端の改良として、一体化されたプローブ(一体化プローブ)の開発を試みた。
机译:在超精密部件,如信息和通信装置以及各种移动设备,该机器的测量技术用于测量的形状和表面粗糙度是一个重要的关键。它可以在不工作的锻炼来测量,并且是由于精密表面和效率表面的优点。基于这样的情况,作者已经开发了低负载taceled形状测量探针,原子力显微镜(AFM),LTP(长期跟踪轮廓仪)和激光探针。在指示笔类型的探针的情况下,它是不依赖于材料,并且在为了应对非球面/自由曲面的形状测量,一分钟球形触针所使用的低负荷进行测量。通常,诸如卢比的硬微细物作为触控笔安装,但其安装误差和球形度影响测量数据。而且,在具有大的上升角度的工作测量中,微肾上腺可能脱落。因此,在该研究中,具有2.5纳米,其具有2.5nm的最小分辨率,并且进一步集成为在探头的尖端的改进的最小分辨率的基于低负荷形状测量探针。我试图开发探针(集成探头)。

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