机译:刻面式表面捕集状态和硅的载体寿命
Natl Tsing Hua Univ Dept Mat Sci &
Engn Hsinchu 30013 Taiwan;
Friedrich Alexander Univ Erlangen Nurnberg FAU I MEET D-91058 Erlangen Germany;
NSRRC Hsinchu 30076 Taiwan;
NSRRC Hsinchu 30076 Taiwan;
Natl Tsing Hua Univ Dept Mat Sci &
Engn Hsinchu 30013 Taiwan;
Natl Tsing Hua Univ Frontier Res Ctr Fundamental &
Appl Sci Masters Hsinchu 30013 Taiwan;
carrier lifetime; facet-dependent properties; impedance measurements; silicon; trap states;
机译:刻面式表面捕集状态和硅的载体寿命
机译:单个硅纳米线中的超快载流子动力学:用泵浦探针显微镜表征直径相关的载流子寿命和表面复合
机译:电荷载流子在钝化硅表面上的俘获
机译:绝缘子上硅材料中基于晶体管的载流子寿命和界面陷阱密度的提取
机译:载流子寿命测量,用于表征超净p / p +硅外延薄层。
机译:极紫外瞬态吸收光谱法探测硅锗合金中超快的载热和俘获
机译:经过超酸处理的硅表面:延长了光伏应用载流子寿命的极限
机译:磁阱中非平衡载流子的寿命