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机译:与B_2H_6 PLAD优化的锗共植入物,可提供更好的先进PMOS器件性能
Beam line; Co-implant; Drain; Knocking effect; PLAD; PMOS; Pre amorphization effect; Source;
机译:与B_2H_6 PLAD优化的锗共植入物,可提供更好的先进PMOS器件性能
机译:用于高级pMOS器件的重掺杂硼的锗源极/漏极层的低温选择性生长
机译:AlTaO介电层盖对先进金属栅极/高$ k $ PMOS应用的器件性能和可靠性的影响
机译:优化的锗与B2H6 PLAD的共植入物,具有更好的先进PMOS器件性能
机译:锗PMOS中的栅极间寄生电容最小化和源极-漏极泄漏评估。
机译:通过外部单轴应力提高迁移率的SOI上的应变锗量子阱PMOSFET
机译:通过多步或碳共植入改善了设备性能