机译:离子损伤硅中缺陷簇的非热电离亚稳态证据
Hydrogenated amorphous-silicon; Interstitial clusters; Charge redistribution; Implanted silicon; Si; Relaxation; Semiconductors; Capacitance; Diffusion; Entropy;
机译:离子损伤硅中缺陷簇的非热电离亚稳态证据
机译:硼掺杂硅中的亚稳定剂:有助于载体诱导降解的缺陷证据
机译:氢化非晶硅膜中捕获的亚稳态氢原子:产生亚稳态缺陷的微观模型
机译:基于CAFM的HfO2应力诱发缺陷的光谱学,具有聚类模型和亚稳态空位缺陷状态的实验证据
机译:晶体硅中缺陷簇的多尺度建模和仿真。
机译:电离诱导的碳化硅中预先存在的缺陷的退火
机译:氢化非晶硅中亚稳缺陷的结构和电学性质