...
机译:直接测量D +和D-0介子的包含K-+ /-和包含半轻子衰变的分支分数
机译:直接测量D +和D-0介子的包含K-+ /-和包含半轻子衰变的分支分数
机译:直接测量D +-> Ke(0)+ v(e)衰减的支化分数并确定Gamma(D-0-> K(-)e(+)v(e))/ Gamma(D +- > K(0)e(+)v(e))
机译:带电的kaon半轻子衰变支化分数K-+ /--> pi(0)mu(+/-)v和K-+ /--> pi(0)e(+/-)v的测量及其比率(体积50,第329页,2007年)
机译:改进的测量 V_(UB)具有包容性半导体B衰变
机译:B-介子衰变为D +介子-对映体和B-介子衰变为D(star)+介子-对映体的包含分支分数的测量
机译:B的相对分支分数的测量衰减到ψ(2S)和J /ψ介子
机译:包含$ K ^ \ pm $和。的分支分数的直接测量 $ D ^ + $和$ D ^ 0 $ mesons的包含semileptonic衰变
机译:包含semileptonic B介子衰变的支化分数的测量