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机译:带电的kaon半轻子衰变支化分数K-+ /--> pi(0)mu(+/-)v和K-+ /--> pi(0)e(+/-)v的测量及其比率(体积50,第329页,2007年)
机译:带电的kaon半轻子衰变支化分数K-+ /--> pi(0)mu(+/-)v和K-+ /--> pi(0)e(+/-)v的测量及其比率(体积50,第329页,2007年)
机译:新测量的K-+ /--> pi(+)pi(-)e(+/-)nu(K-e4)衰变分支比和强子形式因子(vol 715,pg 105,2012)
机译:使用KLOE检测器测量衰变K-+ /--> pi(+/-)pi(0)pi(0)的分支比
机译:k_l的精确测量 - >#pi#〜0 V衰减在50-GEV PS
机译:在CERN的NA48 / 2实验中测量带电的kaon半轻子衰变分支分数及其比率。
机译:带电的Kaon半轻电子衰变分支分数$ K ^ {+-} \ to \ pi ^ 0 \ mu ^ {+-} \ nu $和$ K ^ {+-} \ to \ pi ^ 0 e ^ {+- } \ nu $及其比率