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Graded-index thin-film stack for cladding and coupling

机译:用于包层和耦合的渐变折射率薄膜叠层

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摘要

A graded-index multilayer thin-film stack is optimized to act as a cladding layer on top of a silicon (Si) nanowaveguide and also a collimator for chip coupling where the waveguide ends. The numerical example shows an optimized graded-index profile from 2.35 to 1.45 provides an optical coupling to the standard single-mode fiber with efficiency close to 90% while retaining tight light confinement for the Si nanowaveguide. The corresponding material realization of a graded-index profile with a Si-rich nitride SiNx/SiON/SiO2 system is explored using inductively coupled plasma chemical vapor deposition, and a SiNx cladded Si waveguide is demonstrated. (C) 2016 Optical Society of America.
机译:渐变折射率多层薄膜堆栈经过优化,可以充当硅(Si)纳米波导顶部的包层,还可以用作准直器,用于在波导端部进行芯片耦合。数值示例显示了从2.35到1.45的最佳渐变折射率分布,它提供了到标准单模光纤的光耦合,效率接近90%,同时为Si纳米波导保留了严格的光限制。利用电感耦合等离子体化学气相沉积,探索了富硅氮化物SiNx / SiON / SiO2系统实现折射率梯度分布的相应材料,并展示了包覆SiNx的Si波导。 (C)2016年美国眼镜学会。

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