フラクタル次元を用いた小児頭部MR画像からの皮質形成異常度推定法

摘要

小児における難治性てんかんの原因の約8割は大脳皮質形成異常によるものである．現在，皮質形成異常部位の特定には硬膜下電極を用いた手法が用いられているが侵襲性が高く，非侵襲であるMR画像を用いた手法が求められている．しかし，MR画像上での皮質形成異常の画像特徴は未だ明らかではなく，皮質形成異常部位の自動検出法も未だ確立されていない．本論文では，大脳表面のフラクタル次元を特徴量として用い，サポートベクターマシンを用いて皮質形成異常度を推定する手法を提案する．本手法を3例の被験者に適用した結果，平均感度94.3％，平均特異度84.5％，平均有効度87.2％で皮質形成異常領域を検出できた．