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【24h】

ウェーハ出荷容器からの金属汚染評価-シリコン·ウェーハの金属汚染に及ぼす出荷容器の影響

机译:晶圆运输容器中金属污染的评估-运输容器对硅晶圆金属污染的影响

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摘要

ウェーハ出荷容器自体の金属汚染は容器洗浄で除去されないが、例え未洗浄の出荷容器を使用してもウェーハ表面への汚染の転移は検出限界以下の量である。一方、ウェーハ端面への汚染転移は局所的·高濃度であり、汚染量を低減する設計·材料の工夫が必要である。
机译:晶片运输容器本身的金属污染不能通过容器清洁来去除,但是即使使用未清洁的运输容器,转移到晶片表面的污染量也低于检测极限。另一方面,污染物转移到晶片的端面是局部的并且是高浓度的,因此有必要设计一种设计和材料以减少污染量。

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