制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法

摘要

本稿では，LFSRを用いたスキャンBISTのリシード向けの新しいLFSRシード生成法を提案する．従来のシード生成法は，テスト対象故障に対してまずスキャンテストパターンを求め，それをLFSRのシードに変換するという方法であった．しかし，この方法ではスキャンテストパターンがシードに変換できる保証はなく，対象故障を検出できない場合があるといった問題があった．提案手法では，LFSRの構造を時間的に展開することでスキャンテストパターンをシードの関数として表現できることに着目し，これをテスト生成の際に制約として用いることで直接シードを求める．具体的には，その関数を表現する組合せ回路を設計し，それをシード生成対象回路に疑似的に接続し，対象故障に対してテスト生成することで直接シードを生成する．本稿ではさらに，ITC'99ベンチマーク回路を用いた実験により，提案手法の有効性を示す．