パイプラインプロセッサ向けカスケードTMRの欠陥レベル評価に関する一考察

摘要

本稿では，パイプラインプロセッサのステージ毎に3重冗長構成（triple modular redundancy: TMR）を適用したカスケードTMR構成の有効性について，良品1チップあたりの面積および欠陥レベルの観点から評価を行う．与えられた欠陥密度，ステージ数に基づいて，良品1チップあたりの面積を解析的に導出する．また，各ステージにおけるモジュールおよびボータは個別にテストされ，テスト結果に基づいてチップのパスフェール判定が行われると仮定し，故障カバレージを考慮して欠陥レベルを解析的に導出する．数値例から，カスケードTMRの適用によって，製造歩留りが低い場合において良品1チップあたりの面積および欠陥レベルが改善されることを示す．また，良品1チップあたりの面積または欠陥レベルが最小となるステージ数が存在する場合があることを示す．，