メモリテストプロセッサを用いたDDR3メモリモジュールテスタの開発

摘要

メモリモジュールメーカでは，品質を保証するために製造したメモリモジュールをテストする必要がある．しかし，市販されているメモリモジュールテスタは高価であることや，低コストのものは任意のテストパターンの作成が行えないなどの問題がある．そこで我々は評価とテストに対する自由度があり，低コストなメモリモジュールテスタの開発を行なった．このテスタでは，メモリテストアルゴリズムに基づくメモリテストプロセッサとDDR3メモリモジュールインタフェースをFPGAに実装している．本稿では，開発したDDR3メモリモジュールテスタについて述べ，更に試作したテスタを使用した評価結果を報告する．