ばらつきを考慮した無線送信回路のテストに関する一考察

摘要

RF用ICの高集積化，回路の複雑化と共に，そのテストも課題となってきている．RF送信回路は，データレート毎に定められたエラー·ベクトル振幅(EVM)の基準値を満たす必要がある．しかし，EVMの測定には高価なテスト装置を必要とするため，代わりとなる手法が検討されている．ビット誤り率(BER)でRF送受信回路をテストする場合，劣悪な環境下で基準値を満たす必要がある．しかし，テスト環境で劣悪な環境を再現することは，大きな課題である．またBERは低く，テストに多大な時間を要するため，他のパラメータによってBERを推定する方法が検討されている。 本研究では，RF送信回路の理想特性からの偏移を考慮した場合の，コンステレーション解析について検討する．誤差による信号の変化を説明し，モデル化されたRP回路のシミュレーションによって，EVMとBERを求めて評価する．