クロックグリッチに基づく故障解析に耐性を持つAES暗号回路

摘要

近年，暗号回路への攻撃手法として，故障解析が脅威となっている．回路への故障の発生方法には，レーザー照射や電圧変動，クロックグリッチなどの方法があるが，実装や制御の容易性からクロックグリッチが注目されている．対策手法として，回路を三重化して比較する空間冗長化手法や，同じ処理を2回行って比較する時間冗長化手法が存在する．しかし，これらの手法は面積オーバーヘッド或いは時間オーバーヘッドが大きいという問題点がある．本稿では，故障解析の誘因となるクロックグリッチを高速に検出可能で，面積オーバーヘッドを4.9%に抑えたAES暗号回路を提案する．